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推力试验探针JAY-I20

推力试验探针JAY-I20

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20N推力试验探针JAY-I20

1N推力试验探针JAY-I20T


推力试验探针产品概述:

            推力试验探针符合GB2099.1标准中的图9及图 10、IEC884-1.2002图9及图10要求,

             20N推力探针主要用于检验保护门内的带电部件是否被触及,

            1N推力探针主要用于检验保护门内的带电部件及有加强保护插座的带电部件是否被触及。


推力试验探针技术参数 :

         20N推力试验探针JAY-I20:探针部分3+0.03 0×1+0.015 0 ×80±0.5,端部倒圆R0.2±0.05,20N推力;

        1N推力试验探针JAY-I20T:探针部分Φ1+0.015 0 ×80±0.5,端部倒圆R0.05,1N推力

 

推力试验探针使用方法:

         将探针端部接触试样,然后施力20N(1N),当探针凸出端A-A面与B-B面平齐即可。




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20N推力试验探针JAY-I20

1N推力试验探针JAY-I20T


推力试验探针产品概述:

            推力试验探针符合GB2099.1标准中的图9及图 10、IEC884-1.2002图9及图10要求,

             20N推力探针主要用于检验保护门内的带电部件是否被触及,

            1N推力探针主要用于检验保护门内的带电部件及有加强保护插座的带电部件是否被触及。


推力试验探针技术参数 :

         20N推力试验探针JAY-I20:探针部分3+0.03 0×1+0.015 0 ×80±0.5,端部倒圆R0.2±0.05,20N推力;

        1N推力试验探针JAY-I20T:探针部分Φ1+0.015 0 ×80±0.5,端部倒圆R0.05,1N推力

 

推力试验探针使用方法:

         将探针端部接触试样,然后施力20N(1N),当探针凸出端A-A面与B-B面平齐即可。




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